全面升级:美国CID公司新的植物冠层分析仪CI-110-产品资讯-资讯-生物在线

全面升级:美国CID公司新的植物冠层分析仪CI-110

作者:上海泽泉科技股份有限公司 2017-11-29T11:48 (访问量:3779)

美国CID公司从成立之初一直秉承轻便、操作简单的设计理念,开发和制造适合田间林地测量的仪器。CID公司的仪器,轻便的设计让客户可以解放自己的双手,便于在田间或林地使用,科学严谨的态度保证数据测量的科学性和准确性。新的植物冠层分析仪CI-110经过近一年的设计和不断的改进,终于在今日面世。它进行了全面的升级,不仅仅继承了之前的可视化功能,而且摒弃了之前的必须连接电脑不便之处,单手就可以在林地、田间测量植物冠层,非常的便捷。

新的植物冠层分析仪CI-110利用高清的鱼眼镜头和CCD图像传感器来获取植物冠层图像。通过专业软件分析,获得植物冠层的叶面积指数(LAI)和冠层其它的参数;自动水平数字相机获取150°的冠层图像,手柄上24个PAR传感器测量光合有效辐射并计算光斑。CI-110图像法测量植物冠层,仅仅获取一次冠层图像即可,简化了传统能量法要一天定点多次测量的繁复工作;同时可以躲开障碍物,选择合适测量点。

5a1be5c16cc69.jpg

新的CI-110分析软件不仅可显示PAR光合仪有效辐射、Sunfleck值、GPS信息,还可以进行天顶角和方位角的分区,可以获得不同区域内的太阳直接辐射、消光系数、叶片的方位分布等参数。

新的CI-110性能更佳,操作更佳简便,为客户提供科学的、精确的数据分析,我们非常欢迎新老客户前来咨询。

上海泽泉科技股份有限公司 商家主页

地 址: 上海市金沙江路1038号华东师大科技园2幢8楼

联系人: 沈先生

电 话: 021-32555118

传 真: 021-32555117

Email:michael.shen@zealquest.com

相关咨询
ADVERTISEMENT